Keysight是德N5225B網(wǎng)絡(luò)分析儀,現(xiàn)貨租售
網(wǎng)絡(luò)分析儀
Products
品牌:Keysight/是德(安捷倫)
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深圳市美高藍(lán)電子儀器有限公司
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Keysight N5245B 是是德科技 PNA-X 系列 中的旗艦級(jí)多功能微波網(wǎng)絡(luò)分析儀。它不僅僅是傳統(tǒng)的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA),更是一個(gè)高度集成的微波測試平臺(tái)。其設(shè)計(jì)理念是:將多種測試功能(矢量網(wǎng)絡(luò)分析、噪聲系數(shù)測試、脈沖測試、非線性測試等)集成于一臺(tái)主機(jī)之內(nèi),通過一次連接即可完成極其復(fù)雜的測量,徹底改變了工程師在研發(fā)和驗(yàn)證高性能元器件時(shí)頻繁更換測試系統(tǒng)的傳統(tǒng)方式。
N5245B 通常提供 2端口或4端口 配置,最大頻率范圍可達(dá) 10 MHz 至 50 GHz,是應(yīng)對(duì)最新無線通信、航空航天與國防、半導(dǎo)體技術(shù)挑戰(zhàn)的終極工具。
All-in-One 一體化測試平臺(tái)
核心優(yōu)勢:這是 PNA-X 與普通 PNA 或 ENA 最大的區(qū)別。它集成了以下功能,無需外部開關(guān)矩陣即可自動(dòng)切換測試模式:
矢量網(wǎng)絡(luò)分析 (S參數(shù)):基礎(chǔ)且精度極高的測量。
噪聲系數(shù)分析(需選件):內(nèi)置噪聲源,可精確測量放大器、變頻器等器件的噪聲系數(shù)和增益。
脈沖射頻測試:內(nèi)置脈沖調(diào)制器和發(fā)生器,可直接進(jìn)行高精度脈沖 S參數(shù)測試,是雷達(dá)T/R組件測試的理想選擇。
非線性和諧波測試:通過內(nèi)置的第二個(gè)信號(hào)源,輕松進(jìn)行增益壓縮、三階交調(diào)(TOI)、諧波失真測量。
變頻器件測試(混頻器):可全面表征混頻器的變頻損耗、壓縮、群延時(shí)和隔離度。
卓越的硬件性能
頻率范圍:10 MHz 至 50 GHz(可通過外部諧波混頻器擴(kuò)展至 1.1 THz)。
動(dòng)態(tài)范圍:> 125 dB(典型值,@ 50 GHz),能夠精確測量極高隔離度或極高損耗的器件。
輸出功率:源功率高(典型值 > +13 dBm),且功率掃描范圍寬,便于進(jìn)行大功率放大器壓縮測試。
軌跡噪聲:極低的軌跡噪聲,保證了測量結(jié)果的精確性和可重復(fù)性,尤其是在測量高回波損耗器件時(shí)。
強(qiáng)大的多端口能力
支持 4端口 配置,能夠輕松表征平衡/差分器件(如差分放大器)、雙工器、多路復(fù)用器和開關(guān)矩陣,無需手動(dòng)切換電纜,大大提高了測試效率和可靠性。
先進(jìn)的校準(zhǔn)與軟件功能
支持全套校準(zhǔn) kits:SOLT, TRL, LRM, 以及使用是德科技電子校準(zhǔn)件(ECal)進(jìn)行快速全自動(dòng)校準(zhǔn)。
時(shí)域分析:內(nèi)置低通和帶通模式,用于故障點(diǎn)定位(Distance-to-Fault, DTF)和器件調(diào)試。
豐富的應(yīng)用軟件:提供針對(duì)放大器、混頻器、濾波器、相位噪聲等應(yīng)用的專用測試軟件,簡化設(shè)置流程。


N5245B 因其多功能和高性能,被廣泛應(yīng)用于前沿科技的研發(fā)和高可靠性制造領(lǐng)域:
航空航天與國防:
雷達(dá)系統(tǒng)組件(T/R模塊、天線、延遲線)
電子戰(zhàn)(EW)系統(tǒng)組件
衛(wèi)星通信有效載荷
無線通信(5G/6G及毫米波):
5G基站功率放大器(PA)、低噪聲放大器(LNA)、濾波器、雙工器
毫米波集成電路(RFIC/MMIC)的全面特性分析
半導(dǎo)體與器件建模:
GaN, GaAs, SiGe 等工藝制造的有源/無源器件測試和模型驗(yàn)證。
科研與高端制造:
大學(xué)和研究機(jī)構(gòu)的先進(jìn)項(xiàng)目。
對(duì)精度和可靠性要求極高的自動(dòng)化生產(chǎn)測試線。
| 指標(biāo)項(xiàng)目 | N5245詳細(xì)說明 |
|---|---|
| 頻率范圍 | 標(biāo)準(zhǔn):10 MHz 至 50 GHz • 可通過外部諧波混頻器(如 N5291A)擴(kuò)展至 1.1 THz 甚至更高。 |
| 測量端口 | • 提供 2端口 或 4端口 主機(jī)配置。 • 所有端口均具備源和接收機(jī)。 |
| 動(dòng)態(tài)范圍 | • ** > 125 dB** (典型值,在 50 GHz 時(shí)) • 此指標(biāo)衡量測量最大信號(hào)與最小噪聲 floor 的能力,對(duì)高隔離度器件測試至關(guān)重要。 |
| 輸出功率 | • ** > +13 dBm** (典型值,在 50 GHz 時(shí)) • 功率掃描范圍寬,允許在低功率水平下測量噪聲系數(shù),在高功率水平下進(jìn)行壓縮測試。 |
| 軌跡噪聲 | • ** < 0.005 dB rms** (典型值,在 10 Hz IFBW,測試 0 dB 傳輸時(shí)) • 極低的軌跡噪聲確保了高精度測量,尤其是在測量高回波損耗(良好匹配)的器件時(shí)。 |
| 阻抗匹配 | • 源匹配:< -30 dB (電子校準(zhǔn)后) • 負(fù)載匹配:< -30 dB (電子校準(zhǔn)后) • 優(yōu)異的端口匹配減少了測量不確定性。 |
| S參數(shù)測試速度 | • 最快 ~ 25 μs/點(diǎn) (在 10 Hz 中頻帶寬下) • 高速測量對(duì)于生產(chǎn)環(huán)境和大量數(shù)據(jù)采集非常重要。 |
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